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涂層測(cè)厚儀為什么會(huì)測(cè)不準(zhǔn)?發(fā)表時(shí)間:2021-04-26 17:03來(lái)源:果歐儀器 高精度“涂層測(cè)厚儀”是一種可以測(cè)量小于1um厚度的涂層精密儀器、可測(cè)量的涂層有電鍍層、油漆層、鍍鋅層、搪瓷層、涂塑層等,下面果歐儀器列舉了11種會(huì)影響涂層測(cè)厚儀測(cè)不準(zhǔn)或測(cè)不到數(shù)值的因素,供大家參考,以便于大家更好的精準(zhǔn)測(cè)量涂層厚度。 1、磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響,對(duì)涂層測(cè)厚儀校準(zhǔn)時(shí),應(yīng)使用與待測(cè)試件基體金屬相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片或待涂層試件進(jìn)行校準(zhǔn)。 2、基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)渦流法測(cè)厚有影響,而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān),應(yīng)使用與待測(cè)試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行校準(zhǔn)。 3、每種涂層測(cè)厚儀都有一個(gè)基體金屬的測(cè)量范圍,要在有效范圍內(nèi)進(jìn)行測(cè)量。 4、電磁法和渦流法對(duì)試件表面形狀的陡變較為敏感,測(cè)量時(shí)應(yīng)避開(kāi)試件邊緣或轉(zhuǎn)角處。 5、試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響,隨著曲率半徑的減少影響明顯增大,不適用與彎曲試件的表面測(cè)量。 6、測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形,因此在這些試件上測(cè)出可靠的數(shù)據(jù)。 7、基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響,隨粗糙程度增大影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差,每次測(cè)量時(shí),在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的冊(cè)數(shù),以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙,還需在未涂覆的粗糙度相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)涂層測(cè)厚儀的零點(diǎn);或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后,再校對(duì)涂層測(cè)厚儀的零點(diǎn)。 8、周?chē)鞣N電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng),會(huì)嚴(yán)重干擾磁性法測(cè)厚工作,因此,應(yīng)在無(wú)強(qiáng)磁場(chǎng)環(huán)境進(jìn)行檢測(cè)。 9、涂層測(cè)厚儀對(duì)妨礙測(cè)頭與覆蓋層緊密接觸的附著物質(zhì)較為敏感,檢測(cè)時(shí)應(yīng)清除附著物質(zhì),保證涂層測(cè)厚儀測(cè)頭和被測(cè)試件表面直接接觸。 10、測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小影響測(cè)量結(jié)果,校準(zhǔn)和測(cè)量過(guò)程中,應(yīng)保持壓力恒定。 11、測(cè)頭的放置角度對(duì)測(cè)量結(jié)果有影響,校準(zhǔn)和測(cè)量過(guò)程中,應(yīng)使測(cè)頭和試樣表面保持垂直。 如果大家發(fā)現(xiàn)涂層測(cè)厚儀測(cè)量不精準(zhǔn)或是測(cè)量數(shù)值波動(dòng)大,不妨按照上述11種方法排查。 相關(guān)閱讀: |
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